本發(fā)明涉及光電檢測(cè)裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、近年來，已經(jīng)提出了在光入射方向上堆疊多個(gè)光電轉(zhuǎn)換元件的堆疊圖像傳感器。例如，已經(jīng)提出了一種固態(tài)成像元件，其中，光電轉(zhuǎn)換在一個(gè)波長(zhǎng)區(qū)域內(nèi)的光的光電轉(zhuǎn)換部設(shè)置在光入射側(cè)上，光電轉(zhuǎn)換在另一個(gè)波長(zhǎng)區(qū)域內(nèi)的光的光電轉(zhuǎn)換部設(shè)置在與光入射側(cè)相反的側(cè)上(例如，參見專利文獻(xiàn)1)。

2、引用列表

3、專利文獻(xiàn)

4、專利文獻(xiàn)1：jp?2017-157801?a

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、技術(shù)問題

2、然而，在上述現(xiàn)有技術(shù)中，由于不能同時(shí)聚焦堆疊的各個(gè)光電轉(zhuǎn)換部，所以存在的問題在于，當(dāng)試圖在焦點(diǎn)之外的光電轉(zhuǎn)換部中檢測(cè)相位差時(shí)，相位差的檢測(cè)靈敏度降低。

3、因此，本公開提出了一種可以提高相位差的檢測(cè)靈敏度的光電檢測(cè)裝置和電子設(shè)備。

4、問題的解決方案

5、根據(jù)本公開，提供了一種光電檢測(cè)裝置。光電檢測(cè)裝置包括光電轉(zhuǎn)換層和顏色分離器層。光電轉(zhuǎn)換層包括光電轉(zhuǎn)換部組，該光電轉(zhuǎn)換部組由能夠檢測(cè)入射到其上的入射光束之間的相位差的多個(gè)光電轉(zhuǎn)換部構(gòu)成。顏色分離器層位于比光電轉(zhuǎn)換層更靠光入射側(cè)并且具有超表面結(jié)構(gòu)。

技術(shù)特征：

1.一種光電檢測(cè)裝置，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電檢測(cè)裝置，還包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

9.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光電檢測(cè)裝置，還包括：

14.根據(jù)權(quán)利要求13所述的光電檢測(cè)裝置，其中，

15.一種光電檢測(cè)裝置，包括：

16.一種電子設(shè)備，包括：

技術(shù)總結(jié)
光檢測(cè)裝置包括光電轉(zhuǎn)換層和顏色分離器層。光電轉(zhuǎn)換層具有由能夠檢測(cè)入射光的各個(gè)相位差的多個(gè)光電轉(zhuǎn)換單元配置的光電轉(zhuǎn)換單元組。顏色分離器層具有超表面結(jié)構(gòu)并且位于比光電轉(zhuǎn)換層更接近光入射側(cè)。

技術(shù)研發(fā)人員：田村崇人,富樫秀晃,大久保智弘,河合信宏
受保護(hù)的技術(shù)使用者：索尼半導(dǎo)體解決方案公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/8/25